第二節  外徑千分尺的計量性能和外觀要求
一、外徑千分尺的計量性能要求
1、測微螺杆的軸向串動和徑向擺動
要求測微螺杆的軸向串動和徑向擺動均不大於0.01 mm。
測微螺杆的軸向串動和徑向擺動是由於千分尺內部各部分間的配合間隙造成的，當測微螺杆的軸向或徑向受一定大小的力時，就會形成測微螺杆的軸向串動或徑向擺動，這種串動或擺動都會對測量的准確度産生影響，因此必須對其提出要求。
檢測時，以杠杆千分表接觸測微螺杆測量面（或端部），沿測微螺杆方向施加3～5N的力（或沿端部徑向施加2～3N的力），記錄杠杆千分表示值的變化，如圖所示。
2、測砧與測微螺杆工作面的相對偏移
千分尺測砧與測微螺杆工作面的相對偏移不應大於如表所示規定：

測量範圍（mm）	測砧與測微螺杆工作面的相對偏移量
0～25	0.1
25～50	0.15

檢測時，用杠杆百分表在平板上檢測。如圖所示，用千斤頂將千分尺放置於平板上，並使千分尺的測微螺杆與平板平行，用杠杆百分表測出測砧與測微螺杆在這一方位的偏移量x，然後將尺架側轉90°，測出另一方位的偏移量y，測砧與測微螺杆測量面相對偏移量△為： 
3、測力
千分尺的測力（系指工作面與球面接觸時所作用的力）應在6～10N範圍內。用分度值不大於0.2N的專用測力計檢測。
4、刻度線寬度和寬度差
固定套管縱刻線和微分筒的刻線寬度為0.15～0.20 mm,刻線寬度不應大於0.03mm。用工具顯微鏡檢測。
5、微分筒錐面的端面棱邊至固定套管刻線面的距離，應不大於0.4mm。用工具顯微鏡或塞尺檢測。
6、微分筒錐面的端面與固定套管毫米刻線面的相對位置
當測量下限調整正確後，微分筒上的零刻線與固定套管縱刻線對准時，微分筒的端面與固定套管毫米刻線右邊應相切，若不相切，壓線不大於0.05mm，離線不大於0.1mm。
7、工作面的表面粗糙度：Ra≤0.05µm。用表面粗糙度比較樣板檢測。
8、工作面的平面度
0級外徑千分尺工作面的平面度不大於0.6µm。1級外徑千分尺工作面的平面度不大於1µm。
9、工作面的平行度
當外徑千分尺鎖緊裝置緊固與松開時千分尺兩工作面的平行度應不大於如表所示規定。
 
 
 

測量範圍	平行度（µm）
	0級	1級
0～25	1	2
25～50	1.3	2.5
50～100	1.5	3
100～150	/	4
150～200	/	6
200～300	/	7
300～400	/	8
400～500	/	10

對於測量上限至100 mm的千分尺，用平行平晶或量塊檢測；對於測量上限大於100mm的千分尺，用專用的鋼球檢具檢測。

10、示值誤差

外徑千分尺的示值誤差應不超過如表所示規定。

測量範圍（mm）	示值誤差（µm）
	0級	1級
0～100	±2	±4
100～150	/	±5
150～200	/	±6
200～300	/	±7
300～400	/	±8
400～500	/	±10

 
 
 

















11、校對用量杆
校對用量杆的尺寸偏差和其兩工作面的平行度應不超過如表所示規定。
 

校對用量杆的標稱尺寸（mm）	尺寸偏差（µm）		工作面的平行度 （µm）
	0級	1級
25	±1	±2	1
50	±1.5	±2	1
75	±1.5	±2	1.5
100125	/	±2.5	2
150175	/	±3	2.5
200225	/	±3.5	3.5
250275	/	±3.5	3.5
325375	/	±4	4
425475	/	±5	5

在光學計或測長機上采用4等量塊比較法檢測。
二、千分尺的外觀要求
1、外觀
千分尺及其校對用的量杆不應有碰傷、銹蝕、帶磁或其他缺陷，刻線應清晰、均勻；
千分尺應附有調整零位的工具，測量上限大於25mm的千分尺應附有校對用的量杆；
千分尺上應有分度值、測量範圍、製造廠名（或廠標）及出廠編號。
2、各部分相互作用
微分筒轉動和測微螺杆的移動應平穩無卡住現象；
可調或可換測砧的調整或裝卸應順暢，作用要可靠，鎖緊裝置的作用應切實有效；
帶有表盤的千分尺，表針移動應靈活、無卡滯現象。